常應(yīng)用于電子元器件，電子線路板等環(huán)境試驗，本試驗設(shè)備符合《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)范Ea：沖擊試驗方法》及《IEC68-2-27，試驗Ea：沖擊》和《MIF-STD202F》規(guī)范對沖擊試驗的要求。

產(chǎn)品特點

本試驗臺面尺寸較小，臺面結(jié)構(gòu)經(jīng)過有限元優(yōu)化分析后精心設(shè)計，結(jié)構(gòu)強度大，頻率響應(yīng)高，通過高加速度沖擊試驗，能達(dá)到0.3ms的加速度持續(xù)時間，沖擊半正弦波形符合試驗規(guī)范。

   內(nèi)置防二次沖擊裝置，臺體配置高效減振裝置，沖擊高度數(shù)字設(shè)定，自動執(zhí)行。

符合標(biāo)準(zhǔn)：GJB150、GJB360、GB2423的要求。

技術(shù)參術(shù)：

*大負(fù)載：10kg

臺面尺寸：250mm×250mm

沖擊峰值加速度范圍：半正弦波：150～5000m/s²

脈沖持續(xù)時間：半正弦波：0.5～20ms

沖擊波形：半正弦波形

速度變化量容差為：±15%

沖擊臺臺體外形尺寸：(1000×750×2400)(mm)

沖擊臺體重量：1500kg

消耗功率：1KVA

工作條件：電源電壓：   220V±10%   AC50Hz